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内建自测试相移器设计算法的优化——AET/2007 33(06)
heros | 2009-03-09 09:51:40    阅读:470   发布文章

在原相移器设计算法的基础上,通过增加一个伪随机数生成函数来选择异或节点的相移器设计算法.实验结果表明,此算法不仅克服了原算法设计的相移器造成LFSR扇出过大的缺点,而且提高了伪随机测试故障的覆盖率. 


内建自测试相移器设计算法的优化.pdf

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